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Mikroszkópos optika az optris Xi 400 infravörös kamerához - Mikroszkópos optika nyomtatott áramkörök ellenőrzésére
Die Mikroskopoptik für die Infrarotkamera optris Xi 400 ermöglicht eine verlässliche Temperaturmessung an winzigen Objekten ab 240 µm. In Kombination mit einem passenden Ständer ermöglicht dies eine professionelle Messung von Leiterplatten und Komponenten in der Elektronikindustrie. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist variabel zwischen 90 und 110 mm. Durch den eingebauten Motorfokus lässt sich die Kamera bequem in der mitgelieferten PIX Connect Software fokussieren.
Temperaturbereich:-20 °C ... 900 °C
Spektralbereich:8 bis 14 µm
Optische Auflösung:382 x 288 Pixel
Bildfrequenz:80 Hz / 27 H
Gewicht:200 g
Spannungsversorgung:via USB
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